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    各種粒度測試方法的優缺點

    發布時間:2021-05-11瀏覽:342次

      (1)篩分法。優點:簡單、直觀、設備造價低,常用于大于40um的樣品。缺點:結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
     
      (2)顯微鏡(圖像)法。優點:簡單、直觀,可進行形貌分析,適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10:1)的樣品。缺點:代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無法分析小于1um的樣品。
     
      (3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。優點:操作漸變,儀器可以連續運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較廣。缺點:測試時間較長,操作比較繁瑣。
     
      (4)電阻法。優點:操作漸變可測顆粒數,等效概念明確,速度快,準確性好。缺點:不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。
     
      (5)激光法。優點:操作簡便,測試速度快,測試范圍廣,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。缺點:結果受分布模型影響較大,儀器造價較高,分辨力低。
     
      (6)電子顯微鏡法。優點:適合測試超新顆粒甚至納米顆粒,分辨力高,可進行形貌和結構分析,缺點:樣品少,代表性差,測量易受人為因素影響,儀器價格昂貴。
     
      (7)光阻法。優點:測試便捷快速,可測液體或氣體中顆粒數,分辨力高。缺點:不適用粒徑小于1umde樣品,進行系統比較講究,僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量,對一般粉體用的不多。
     
      (8)透氣法。優點:儀器價格低。不用對樣品進行分散,可測測性材料粉體。缺點:只能得到平均粒度值,不能測粒度分布;不能測小于5um細粉。
     
      (9)X射線小角散射法。用于納米級顆粒的粒度測量。
     
      (10)光子相關譜法(動態光散射法)。用于納米級顆粒的粒度測量。

     

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